Автоматизована система контролю параметрів шорсткості поверхні деталей приладів

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorПолушко, М. М.
dc.contributor.authorШевченко, В. В.
dc.contributor.authorМозговий, Р. С.
dc.date.accessioned2025-08-06T12:16:48Z
dc.date.available2025-08-06T12:16:48Z
dc.date.issued2025
dc.format.pagerangeC. 131-134
dc.identifier.citationПолушко, М. М. Автоматизована система контролю параметрів шорсткості поверхні деталей приладів / Полушко М. М., Шевченко В. В., Мозговий Р. С. // XXІV Міжнародна науково-технічна конференція "Приладобудування: стан і перспективи", 13-14 травня 2025 р., м. Київ, Україна : збірник матеріалів конференції. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2025. – С. 131-134. – Бібліогр. 6 назв.
dc.identifier.urihttps://ela.kpi.ua/handle/123456789/75431
dc.language.isouk
dc.publisherКПІ ім. Ігоря Сікорського
dc.publisher.placeКиїв
dc.relation.ispartofХХІV Міжнародна науково-технічна конференція «Приладобудування: стан і перспективи», 13-14 травня 2025 р., Київ, Україна: збірник матеріалів конференції.
dc.subjectавтоматизована система
dc.subjectпараметри шорсткості поверхні деталей приладів
dc.subjectоптичний метод
dc.subjectконтроль
dc.subject.udc621.9.08:658.562
dc.titleАвтоматизована система контролю параметрів шорсткості поверхні деталей приладів
dc.typeArticle

Файли

Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
131-134.pdf
Розмір:
301.99 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
8.98 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Зібрання

Приладобудування: стан і перспективи (24 ; 2025 ; Київ)