Метод прогнозування виходу придатних інтегральних мікросхем
Вантажиться...
Дата
2018
Автори
Науковий керівник
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
Анотація
Опис
Ключові слова
тестування мікросхем, автоматичне тестувальне обладнання, статистичний аналіз, vlsi testing, automatic test equipment, time dependent defect, big data
Бібліографічний опис
Васильєв, А. О. Метод прогнозування виходу придатних інтегральних мікросхем : магістерська дис. : 153 Мікро- та наносистемна техніка / Васильєв Андрій Олегович. – Київ, 2018. – 93 с.