Analysis of neural networks efficiency in active thermal defectometry depending on the number of thermograms
Вантажиться...
Дата
2020-05
Автори
Науковий керівник
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
КПІ ім. Ігоря Сікорського
Анотація
Опис
Ключові слова
nondestructive testing, neural networks, thermal defectometry
Бібліографічний опис
Momot, A. S. Analysis of neural networks efficiency in active thermal defectometry depending on the number of thermograms / Momot A. S. // XІХ Міжнародна науково-технічна конференція «Приладобудування: стан і перспективи», 13-14 травня 2020 р., Київ, Україна : збірник матеріалів конференції. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2020. – С. 132. – Бібліогр.: 2 назви.