Прилад для дослідженні характеристик напівпровідникових елементів
Вантажиться...
Дата
2016
Автори
Грицевич, І. Р.
Піддубний, В. О.
Науковий керівник
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
КПІ ім. Ігоря Сікорського
Анотація
Опис
Ключові слова
характерограф, характеристики транзистора, САПР, curve tracer, the transistor characteristics, CAD, характериограф, характеристики транзистора, САПР
Бібліографічний опис
Грицевич, І. Р. Прилад для дослідженні характеристик напівпровідникових елементів / Грицевич І. Р., Піддубний В. О. // Міжнародна науково-технічна конференція «Радіотехнічні поля, сигнали, апарати та системи» : матеріали конференції 14 – 20 березня 2016 р., м. Київ, Україна / КПІ ім. Ігоря Сікорського, РТФ. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2016. – С. 63–65. – Бібліогр.: 4 назви .