Оценка потерь MOSFET транзисторов в ключевых ультразвуковых генераторах
Дата
2015
Автори
Науковий керівник
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
КПІ ім. Ігоря Сікорського
Анотація
Опис
Ключові слова
MOSFET, ключовий режим, статичні втрати, динамічні втрати, MOSFET, a switch mode, static losses, dynamic losses, MOSFET, ключевой режим, статические потери, динамические потери
Бібліографічний опис
Мовчанюк, А. В. Оценка потерь MOSFET транзисторов в ключевых ультразвуковых генераторах / Мовчанюк А. В., Вистизенко Е. В. // Міжнародна науково-технічна конференція «Радіотехнічні поля, сигнали, апарати та системи» : матеріали конференції 16–22 березня 2015 р., м. Київ, Україна / КПІ ім. Ігоря Сікорського, РТФ. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2015. – С. 60–62. – Бібліогр.: 1 назва.