Виявлення демаскуючих ознак стеганограм, сформованих на основі сингулярного розкладу матриць цифрових зображень
Вантажиться...
Дата
2015
Науковий керівник
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
КПІ ім. Ігоря Сікорського
Анотація
Опис
Ключові слова
пасивний стегоаналіз, метрики якості зображень, passive steganalysis, image quality metrics, пассивный стегоанализ, метрики качества изображений
Бібліографічний опис
Голубничий, В. О. Виявлення демаскуючих ознак стеганограм, сформованих на основі сингулярного розкладу матриць цифрових зображень / Голубничий В. О., Прогонов Д. О., Кущ С. М. // Міжнародна науково-технічна конференція «Радіотехнічні поля, сигнали, апарати та системи» : матеріали конференції 16–22 березня 2015 р., м. Київ, Україна / КПІ ім. Ігоря Сікорського, РТФ. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2015. – С. 259–261. – Бібліогр.: 6 назв.