Дослідження дефектів дислокації в напівпровідникових матеріалах оптичними методами
Вантажиться...
Дата
2023
Автори
Науковий керівник
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
КПІ ім. Ігоря Сікорського
Анотація
Опис
Ключові слова
дефекти дислокацій, кристал, обробка зображень, щільність дислокацій
Бібліографічний опис
Пятайкіна, М. І. Дослідження дефектів дислокації в напівпровідникових матеріалах оптичними методами / Пятайкіна М. І., Стрілкова Т. О. // XХIІ Міжнародна науково-технічна конференція “Приладобудування: стан і перспективи”, 16 – 17 травня 2023 р., Київ, Україна : збірник матеріалів конференції. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2023. – С. 45–48. – Бібліогр.: 4 назви.