Оптичний метод автоматизованого аналізу дефектів оптоволоконних конекторів за допомогою мікроскопа
Вантажиться...
Дата
2025
Автори
Науковий керівник
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
КПІ ім. Ігоря Сікорського
Анотація
Магістерська дисертація на тему: «Оптичний метод автоматизованого аналізу
дефектів оптоволоконних конекторів за допомогою мікроскопа».
Обсяг роботи: дисертація складається зі вступу, 4 розділів, висновків, списку
використаних джерел та додатків. Загальний обсяг роботи становить [118] сторінок,
[20] рисунків, [26] таблиць, [21] найменувань у списку лтератури.
Актуальність теми зумовлена необхідністю забезпечення високої надійності та
стабільності сучасних високошвидкісних волоконно-оптичних мереж (FTTH, 5G,
центрів обробки даних), де якість фізичних з'єднань є критичним фактором.
Оскільки мікроскопічні дефекти на торцях конекторів спричиняють деградацію
сигналу, а існуючі методи ручного контролю є суб’єктивними та повільними,
виникає нагальна потреба у впровадженні ефективних та доступних систем
автоматизованого оптичного аналізу на базі технологій комп’ютерного зору.
Метою роботи є розробка та дослідження оптичного методу автоматизованого
аналізу дефектів оптоволоконних конекторів за допомогою цифрового мікроскопа, а
також підвищення точності та об'єктивності контролю за рахунок удосконалення
алгоритмів обробки зображень та сегментації дефектів згідно з міжнародними
стандартами.
У роботі отримано такі наукові результати:
Удосконалено метод попередньої обробки та сегментації зображень
багатоволоконних ферул шляхом розробки алгоритму стабілізації координатної
сітки, що, на відміну від існуючих підходів, дозволяє ефективно відновлювати
положення волокон навіть за умов високого рівня шуму від текстури матеріалу.
Дістало подальшого розвитку алгоритмічне забезпечення виявлення дефектів
за допомогою запропонованого гібридного детектора, який реалізує стратегію
роздільного аналізу зон серцевини та оболонки з використанням адаптивних порогів,
що забезпечує мінімізацію хибних спрацювань.
Розроблено конструкцію спеціалізованих адаптерів та обґрунтовано вибір
оптичної системи, що дозволило адаптувати цифровий мікроскоп для
автоматизованої інспекції специфічної геометрії прямокутних ферул типу MT з
високою роздільною здатністю.
Опис
Ключові слова
оптоволоконний конектор, автоматизований аналіз, цифровий мікроскоп, комп'ютерний зір, цифрова обробка зображень, класифікація дефектів, якість сигналу, fibre optic connector, automated analysis, digital microscope, computervision, digital image processing, defect classification, signal quality
Бібліографічний опис
Штанічев, M. B. Оптичний метод автоматизованого аналізу дефектів оптоволоконних конекторів за допомогою мікроскопа : магістерська дис. : 174 Автоматизація, комп’ютерно-інтегровані технології та робототехніка / Штанічев Микита. – Київ, 2025. – 118 с.