Електронна мікроскопія напівпровідникових структур

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.advisorВерцанова, Олена Вікторівна
dc.contributor.authorКуліков, Борис Олегович
dc.date.accessioned2023-09-08T17:13:08Z
dc.date.available2023-09-08T17:13:08Z
dc.date.issued2023
dc.description.abstractОб'єкт дослідження – електронна мікроскопія в якості дослідження напівпровідникових структур. Предмет дослідження – напівпровідникові структури. Мета роботи – отримати розуміння ринкового значення напівпровідників, методів дослідження та застосування електронної мікроскопії для аналізу напівпровідникових структур, а також ознайомитись з актуальними дослідженнями та публікаціями у цій галузі. В роботі було проведено аналіз методів дослідження напівпровідникових матеріалів, визначено місце електронної мікроскопії серед інших методів дослідження, визначено принцип дослідження напівпровідників методом електронної мікроскопії, описано склад скануючого електронного мікроскопа, розглянуто застосування різноманітних методів дослідження структур напівпровідників методом електронної мікроскопії та описано їх можливості. Текстова частина дипломної роботи складає 52 сторінки, 16 рисунків та 28 літературні джерела.uk
dc.description.abstractotherThe object of research is electron microscopy as a study of semiconductor structures. The subject of research is semiconductor structures. The purpose of the work is to gain an understanding of the market value of semiconductors, methods of research and application of electron microscopy for the analysis of semiconductor structures, as well as to familiarize oneself with current research and publications in this area. The paper analyzes the methods of studying semiconductor materials, determines the place of electron microscopy among other research methods, defines the principle of studying semiconductors by electron microscopy, describes the composition of a scanning electron microscope, considers the use of various methods of studying semiconductor structures by electron microscopy, and describes their capabilities. The textual part of the thesis consists of 52 pages, 16 figures and 28 references.uk
dc.format.extent52 с.uk
dc.identifier.citationКуліков, Б. О. Електронна мікроскопія напівпровідникових структур : дипломна робота … бакалавра : 153 Мікро- та наносистемна техніка / Куліков Борис Олегович. – Київ, 2023. – 52 с.uk
dc.identifier.urihttps://ela.kpi.ua/handle/123456789/60095
dc.language.isoukuk
dc.publisher.placeКиївuk
dc.subjectелектронна мікроскопіяuk
dc.subjectскануюча електронна мікроскопіяuk
dc.subjectтрансмісійна електронна мікроскопіяuk
dc.subjectнапівпровідникuk
dc.subjectнапівпровідникова структураuk
dc.subjectметоди дослідження напівпровідників методом електронної мікроскопіїuk
dc.subjectдослідження напівпровідникових структур через електронну мікроскопіюuk
dc.subjectelectron microscopyuk
dc.subjectscanning electron microscopyuk
dc.subjecttransmission electron microscopyuk
dc.subjectsemiconductoruk
dc.subjectsemiconductor structureuk
dc.subjectmethods of studying semiconductors by electron microscopyuk
dc.subjectstudy of semiconductor structures by electron microscopyuk
dc.titleЕлектронна мікроскопія напівпровідникових структурuk
dc.typeBachelor Thesisuk

Файли

Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
Kulikov_bakalavr.pdf
Розмір:
1.06 MB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:
Завантажити
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
9.1 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Зібрання

Бакалаврські роботи (МЕ)
Бакалаврські роботи