Вплив додаткових шарів Ag на аморфізацію границь розділу та фазові перетворення в нанорозмірних плівкових композиціях Ni/Ag/Ti

dc.contributor.advisorОрлов, Андрій Костянтинович
dc.contributor.authorТурта, Данило Олексійович
dc.date.accessioned2023-08-07T09:19:41Z
dc.date.available2023-08-07T09:19:41Z
dc.date.issued2023
dc.description.abstractОб’єкт досліджень: нанорозмірні тонкоплівкові композиції на основі Ni (30 нм)/Ti (30 нм) з проміжним шаром Ag (10 нм), осаджені на підкладинку Si (100) методом магнетронного розпорошення. Предмет досліджень: вплив проміжного шару Ag на аморфізацію та структурнто-фазові перетворення в тонкоплівковій композиції Ni/Ag/Ti/Si. Мета роботи: дослідити термічно-індуковані структурно-фазові перетворення при додаванні проміжного шару Ag (10 нм) в тонкоплівкових композиціях Ni/Ag/Ti/Si після відпалу в вакуумі (10-4 Па) за температури (300-700) C. Методи дослідження: рентгеноструктурний фазовий аналіз, вторинно іонна мас-спектрометрія. Результати досліджень та їх новизна: отримані результати рентгеноструктурного аналізу та вторинно іоної мас-спектроскопії свідчать про можливе утворення інтерметалідної фази Ni3Ti або NiTi2. Також було виявлено, що проміжний шар Ag (10 нм) запобігає аморфізації границі розділу Ni/Ti у вихідному стані. Сфери застосування: аерокосмічна, медична, мікроелектромеханічні системи.uk
dc.description.abstractotherThe object of research: nanoscale thin-film stacks based on Ni (30 nm) Ti (30 nm) with an interlayer of Ag (10 nm), deposited on a Si (100) substrate by magnetron sputtering. The subject of research: the effect of the interlayer of Ag on amorphization processes and structural-phase transitions in the Ni/Ag/Ti/Si thin-film stacks. The purpose of the work: investigation of the effect on the induced structural-phase transitions with adding an intermediate layer of Ag (10 nm) in thin film stacks of Ni/Ag/Ti/Si after annealing in vacuum (10-4 Pa) at a temperature of (300 – 700) C. Research methods: x-ray diffraction analysis, secondary ion mass spectrometry. Research results and their novelty: the obtained results of X-ray structural analysis and secondary ion mass spectroscopy indicate the possible formation of an intermetallic phase of Ni3Ti or NiTi2. It was also found that the intermediate Ag layer (10 nm) prevents amorphization of the Ni/Ti interface in the initial state. Application: aerospace, medical, microelectromechanical systems.uk
dc.format.extent66 с.uk
dc.identifier.citationТурта, Д. О. Вплив додаткових шарів Ag на аморфізацію границь розділу та фазові перетворення в нанорозмірних плівкових композиціях Ni/Ag/Ti : дипломний проект ... бакалавра : 132 Матеріалознавство / Турта Данило Олексійович. – Київ, 2023. – 66 с.uk
dc.identifier.urihttps://ela.kpi.ua/handle/123456789/58988
dc.language.isoukuk
dc.publisherКПІ ім. Ігоря Сікорськогоuk
dc.publisher.placeКиївuk
dc.subjectаморфізаціяuk
dc.subjectсплави з пам’яттю формиuk
dc.subjectструктурно-фазові перетворенняuk
dc.subjectтермічна обробкаuk
dc.subjectтонкоплівкові композиціїuk
dc.titleВплив додаткових шарів Ag на аморфізацію границь розділу та фазові перетворення в нанорозмірних плівкових композиціях Ni/Ag/Tiuk
dc.typeBachelor Thesisuk

Файли

Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Вантажиться...
Ескіз
Назва:
Turta_bakalavr.pdf
Розмір:
1.63 MB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
9.1 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис: