Системи аналізу зображення в методах візуального контролю якості ІС
dc.contributor.advisor | Верцанова, Олена Вікторівна | |
dc.contributor.author | Бердник, Кирило Юрійович | |
dc.date.accessioned | 2020-07-20T12:39:32Z | |
dc.date.available | 2020-07-20T12:39:32Z | |
dc.date.issued | 2020 | |
dc.description.abstracten | The work aims to analyze the industry of inspection of integrated circuits, to compare image analysis algorithms suitable for a given task. In this work, we will consider methods for detecting defects that are used in visual quality control of integrated circuits, a description of the occurrence of defects, possible consequences for the operation of the circuit, methods for capturing and acquiring images of light microscopy, their comparison, as well as a description of the use of specific techniques and software for detecting metallization failures. | uk |
dc.description.abstractuk | Метою роботи є аналіз галузі інспекції інтегральних схем, порівняння алгоритмів аналізу зображень, розгляд методів захоплення зображення, доцільних для поставленої задачі. У цій роботі будуть розглянуті методи виявлення дефектів, що застосовуються у візуальному контролі якості інтегральних схем, опис виникнення дефектів, можливі наслідки для роботи схеми, методи захоплення та отримання зображення світлової мікроскопії, їх порівняння, а також опис застосування конкретної техніки та програмного забезпечення для виявлення похибки металізації. | uk |
dc.format.page | 57 с. | uk |
dc.identifier.citation | Бердник, К. Ю. Системи аналізу зображення в методах візуального контролю якості ІС : дипломна робота … бакалавра : 153 Мікро- та наносистемна техніка / Бердник Кирило Юрійович. – Київ, 2020. – 57 с. | uk |
dc.identifier.uri | https://ela.kpi.ua/handle/123456789/35115 | |
dc.language.iso | uk | uk |
dc.publisher | КПІ ім. Ігоря Сікорського | uk |
dc.publisher.place | Київ | uk |
dc.subject | контроль якості інтегральних схем | uk |
dc.subject | алгоритми аналізу зображення | uk |
dc.subject | дефекти інтегральних схем | uk |
dc.subject | методи обробки зображення | uk |
dc.subject | quality control of integrated circuits | uk |
dc.subject | image analysis algorithms | uk |
dc.subject | image acquisition methods | uk |
dc.subject | image processing methods | uk |
dc.subject | light microscopy | uk |
dc.title | Системи аналізу зображення в методах візуального контролю якості ІС | uk |
dc.type | Bachelor Thesis | uk |
Файли
Контейнер файлів
1 - 1 з 1
Вантажиться...
- Назва:
- Berdnyk_bakalavr.pdf
- Розмір:
- 3.21 MB
- Формат:
- Adobe Portable Document Format
- Опис: