Системи аналізу зображення в методах візуального контролю якості ІС

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.advisorВерцанова, Олена Вікторівна
dc.contributor.authorБердник, Кирило Юрійович
dc.date.accessioned2020-07-20T12:39:32Z
dc.date.available2020-07-20T12:39:32Z
dc.date.issued2020
dc.description.abstractenThe work aims to analyze the industry of inspection of integrated circuits, to compare image analysis algorithms suitable for a given task. In this work, we will consider methods for detecting defects that are used in visual quality control of integrated circuits, a description of the occurrence of defects, possible consequences for the operation of the circuit, methods for capturing and acquiring images of light microscopy, their comparison, as well as a description of the use of specific techniques and software for detecting metallization failures.uk
dc.description.abstractukМетою роботи є аналіз галузі інспекції інтегральних схем, порівняння алгоритмів аналізу зображень, розгляд методів захоплення зображення, доцільних для поставленої задачі. У цій роботі будуть розглянуті методи виявлення дефектів, що застосовуються у візуальному контролі якості інтегральних схем, опис виникнення дефектів, можливі наслідки для роботи схеми, методи захоплення та отримання зображення світлової мікроскопії, їх порівняння, а також опис застосування конкретної техніки та програмного забезпечення для виявлення похибки металізації.uk
dc.format.page57 с.uk
dc.identifier.citationБердник, К. Ю. Системи аналізу зображення в методах візуального контролю якості ІС : дипломна робота … бакалавра : 153 Мікро- та наносистемна техніка / Бердник Кирило Юрійович. – Київ, 2020. – 57 с.uk
dc.identifier.urihttps://ela.kpi.ua/handle/123456789/35115
dc.language.isoukuk
dc.publisherКПІ ім. Ігоря Сікорськогоuk
dc.publisher.placeКиївuk
dc.subjectконтроль якості інтегральних схемuk
dc.subjectалгоритми аналізу зображенняuk
dc.subjectдефекти інтегральних схемuk
dc.subjectметоди обробки зображенняuk
dc.subjectquality control of integrated circuitsuk
dc.subjectimage analysis algorithmsuk
dc.subjectimage acquisition methodsuk
dc.subjectimage processing methodsuk
dc.subjectlight microscopyuk
dc.titleСистеми аналізу зображення в методах візуального контролю якості ІСuk
dc.typeBachelor Thesisuk

Файли

Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
Berdnyk_bakalavr.pdf
Розмір:
3.21 MB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:
Завантажити
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
9.06 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Зібрання

Бакалаврські роботи (МЕ)
Бакалаврські роботи