Системи аналізу зображення в методах візуального контролю якості ІС
Вантажиться...
Дата
2020
Автори
Науковий керівник
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
КПІ ім. Ігоря Сікорського
Анотація
Опис
Ключові слова
контроль якості інтегральних схем, алгоритми аналізу зображення, дефекти інтегральних схем, методи обробки зображення, quality control of integrated circuits, image analysis algorithms, image acquisition methods, image processing methods, light microscopy
Бібліографічний опис
Бердник, К. Ю. Системи аналізу зображення в методах візуального контролю якості ІС : дипломна робота … бакалавра : 153 Мікро- та наносистемна техніка / Бердник Кирило Юрійович. – Київ, 2020. – 57 с.