Оптико-електронна система для виявлення дефектів клейових з’єднань оптичних деталей
Ескіз недоступний
Дата
2018-12
Науковий керівник
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
Анотація
Опис
Ключові слова
оптико-електронна система, клейові з’єднання, дефекти, камера на базі матриці CMOS, ПВА, момент, епоксид, термопластичний, optoelectronic systems, adhesive compound, defects, camera based matrix CMOS, PVA, moments, epoxy, thermoplastic
Бібліографічний опис
Шкарівський, Р. А. Оптико-електронна система для виявлення дефектів клейових з’єднань оптичних деталей : магістерська дис. : 152 Метрологія та інформаційно-вимірювальна техніка / Шкарівський Руслан Анатолійович. – Київ, 2018. – 92 с.