Оптико-електронна система для виявлення дефектів клейових з’єднань оптичних деталей
Ескіз недоступний
Дата
2018-12
Науковий керівник
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
Анотація
Магістерська дисертація, пояснювальна записка 108 с., 98 рисунків, 35 таблиць, 29 джерел. Стенд Оптико-електронної системи для виявлення дефектів клейових з’єднань оптичних деталей. Огляд та аналіз відомих методів виявлення дефектів з’єднань. Аналіз програмних комплексів виявлення дефектів. Аналіз та побудова блоку освітлення. Геометричні розміри дефектів клейових з’єднань оптичних деталей.
Схеми оптичні, комбіновані структурні.
Проведено експерименти:
1. Якість елементів блоку освітлення;
2. 1-ий експеримент з об’єктами дослідження;
3. 2-ий експеримент з застосуванням УП «Ретона»
Визначення геометричних розмірів дефектів. Визначення площі покриття клейового розчину. Розрахунок похибок. Аналіз покращення клейових з’єднань після застосування УП «Ретона»
Розробка стартап-проекту.
Опис
Ключові слова
оптико-електронна система, клейові з’єднання, дефекти, камера на базі матриці CMOS, ПВА, момент, епоксид, термопластичний, optoelectronic systems, adhesive compound, defects, camera based matrix CMOS, PVA, moments, epoxy, thermoplastic
Бібліографічний опис
Шкарівський, Р. А. Оптико-електронна система для виявлення дефектів клейових з’єднань оптичних деталей : магістерська дис. : 152 Метрологія та інформаційно-вимірювальна техніка / Шкарівський Руслан Анатолійович. – Київ, 2018. – 92 с.