Оптико-електронна система для виявлення дефектів клейових з’єднань оптичних деталей

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.advisorМаркін, Максим Олександрович
dc.contributor.authorШкарівський, Руслан Анатолійович
dc.date.accessioned2019-03-27T13:10:56Z
dc.date.available2019-03-27T13:10:56Z
dc.date.issued2018-12
dc.description.abstractenMaster dissertation, the explanatory note 108 pp., 98 illustrations, 35 tables, 29 sources. Stand optoelectronic system for detecting defects in optical components of glutinous connections. Review and analysis of known methods for detecting defects in joints. Analysis software systems detect defects. Analysis and construction unit of illumination. Geometric size defects adhesive joints optical components. Schemes of optical composite structure. Experiments: 1. Quality elements block light; 2. The first experiment with objects of research; 3. The second experiment using UD "Retona" Determination of the geometric dimensions of defects. Determination of the surface area of the adhesive solution. Calculation errors. Analysis of improvement after applying of glutinous connections UD "Retona" Development of a startup project.uk
dc.description.abstractukМагістерська дисертація, пояснювальна записка 108 с., 98 рисунків, 35 таблиць, 29 джерел. Стенд Оптико-електронної системи для виявлення дефектів клейових з’єднань оптичних деталей. Огляд та аналіз відомих методів виявлення дефектів з’єднань. Аналіз програмних комплексів виявлення дефектів. Аналіз та побудова блоку освітлення. Геометричні розміри дефектів клейових з’єднань оптичних деталей. Схеми оптичні, комбіновані структурні. Проведено експерименти: 1. Якість елементів блоку освітлення; 2. 1-ий експеримент з об’єктами дослідження; 3. 2-ий експеримент з застосуванням УП «Ретона» Визначення геометричних розмірів дефектів. Визначення площі покриття клейового розчину. Розрахунок похибок. Аналіз покращення клейових з’єднань після застосування УП «Ретона» Розробка стартап-проекту.uk
dc.format.page92 с.uk
dc.identifier.citationШкарівський, Р. А. Оптико-електронна система для виявлення дефектів клейових з’єднань оптичних деталей : магістерська дис. : 152 Метрологія та інформаційно-вимірювальна техніка / Шкарівський Руслан Анатолійович. – Київ, 2018. – 92 с.uk
dc.identifier.urihttps://ela.kpi.ua/handle/123456789/26939
dc.language.isoukuk
dc.publisher.placeКиївuk
dc.subjectоптико-електронна системаuk
dc.subjectклейові з’єднанняuk
dc.subjectдефектиuk
dc.subjectкамера на базі матриці CMOSuk
dc.subjectПВАuk
dc.subjectмоментuk
dc.subjectепоксидuk
dc.subjectтермопластичнийuk
dc.subjectoptoelectronic systemsen
dc.subjectadhesive compounden
dc.subjectdefectsen
dc.subjectcamera based matrix CMOSen
dc.subjectPVAen
dc.subjectmomentsen
dc.subjectepoxyen
dc.subjectthermoplasticen
dc.subject.udc531.7uk
dc.titleОптико-електронна система для виявлення дефектів клейових з’єднань оптичних деталейuk
dc.typeMaster Thesisuk

Файли

Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
Shakivskyi_magistr.docx
Розмір:
5.29 MB
Формат:
Microsoft Word XML
Опис:
Завантажити
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
1.71 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Зібрання

Магістерські роботи (НАЕПС)
Магістерські роботи