Бакалаврські роботи (МЕ)
Постійне посилання зібрання
Переглянути
Перегляд Бакалаврські роботи (МЕ) за Автор "Верцанова, Олена Вікторівна"
Зараз показуємо 1 - 5 з 5
Результатів на сторінці
Налаштування сортування
Документ Відкритий доступ Віртуальна метрологія контролю якості напівпровідникових пластин(КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2021) Войтенко, Богдан Олександрович; Верцанова, Олена ВікторівнаДокумент Відкритий доступ Електронна мікроскопія напівпровідникових структур(2023) Куліков, Борис Олегович; Верцанова, Олена ВікторівнаОб'єкт дослідження – електронна мікроскопія в якості дослідження напівпровідникових структур. Предмет дослідження – напівпровідникові структури. Мета роботи – отримати розуміння ринкового значення напівпровідників, методів дослідження та застосування електронної мікроскопії для аналізу напівпровідникових структур, а також ознайомитись з актуальними дослідженнями та публікаціями у цій галузі. В роботі було проведено аналіз методів дослідження напівпровідникових матеріалів, визначено місце електронної мікроскопії серед інших методів дослідження, визначено принцип дослідження напівпровідників методом електронної мікроскопії, описано склад скануючого електронного мікроскопа, розглянуто застосування різноманітних методів дослідження структур напівпровідників методом електронної мікроскопії та описано їх можливості. Текстова частина дипломної роботи складає 52 сторінки, 16 рисунків та 28 літературні джерела.Документ Відкритий доступ Метод електронної мікроскопії для дослідження підповерхневих дефектів електронних компонентів та ІС(2023) Лугова, Вероніка Олегівна; Верцанова, Олена ВікторівнаТекстова частина дипломної роботи складає 51 сторінок, 21 рисунків та 30 літературних посилань. Об'єкт дослідження – метод електронної мікроскопії, за допомогою якого проводиться аналіз дефектів. Предмет дослідження – підповерхневі дефекти електронних компонентів та інтегральних схем. Мета роботи – вивчення можливостей застосування методу електронної мікроскопії для вияву і аналізу підповерхневих дефектів електронних компонентів та ІС, а також визначити типи та характеристики дефектів. Розглянути основні принципи цього методу, а також його використання. В роботі виконано огляд методів електронної мікроскопії, висвітлено їх переваги та недоліки у виявлення та аналізу підповерхневих дефектів електронних компонентів та ІС. Також наведений огляд підповерхневі дефекти і їх характеристики. Описано застосування методу скануючої електронної мікроскопії у поєднанні зі сфокусованим іонним пучком для виявлення підповерхневих дефектів електронних компонентів та ІС.Документ Відкритий доступ Методи виявлення прихованих дефектів деламінації багатошарових друкованих плат(КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2021) Герасимов, Костянтин Андрійович; Верцанова, Олена ВікторівнаДокумент Відкритий доступ Системи аналізу зображення в методах візуального контролю якості ІС(КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2020) Бердник, Кирило Юрійович; Верцанова, Олена Вікторівна