(2018) Грицевич, Іван Ростиславович; Піддубний, Володимир Олексійович
Робота виконана на 87 сторінках, має 17 посилань на науково-технічну літературу. В роботі є 45 рисунків та 32 таблиці.
В дисертації розроблено пристрій вимірювання характеристик та формування параметрів моделі напівпровідників для САПР. Розроблено алгоритми вимірювання частотних та температурних характеристик. Дана розробка дозволить уточнювати або формувати параметри транзисторів та інших напівпровідникових приладів. Це дозволить підвищити ефективність проектування радіо-електронної апаратури, зокрема уникнути налаштування після проектування, підвищити надійність та зменшити загальну кількість компонентів радіо-електронних схем.