Пристрій вимірювання параметрів напівпровідникових приладів для формування їх математичних моделей САПР
Вантажиться...
Дата
2018
Автори
Науковий керівник
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
Анотація
Опис
Ключові слова
транзисторний характерограф, параметри напівпровідників, модель Гумеля-Пуна, параметри моделі САПР, вольт-амперні характеристики, amper-volt characteristics., transistor curve tracer, semiconductor parameters, Gummel-Poon model, CAD model parameters
Бібліографічний опис
Грицевич, І. Р. Пристрій вимірювання параметрів напівпровідникових приладів для формування їх математичних моделей САПР : магістерська дис. : 172 Радіотехнічні інформаційні технології / Грицевич Іван Ростиславович – Київ, 2018. – 101 с.