Вимірювання НВЧ параметрів діелектричних матеріалів методом тонкого діелектричного резонатора
Вантажиться...
Дата
2015
Науковий керівник
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
НТУУ «КПІ»
Анотація
Опис
Ключові слова
діелектрична проникність, тангенс кута діелектричних втрат, тонкий діелектричний резонатор, НВЧ параметри, чутливість методу, semiconductor materials, the loss tangent, the dielectric permittivity, the frequency dependence of losses, the conductivity, the quasi-Debye mechanism, диэлектрическая проницаемость, тангенс угла диэлектрических потерь, диэлектрический резонатор, СВЧ параметры, чувствительность метода
Бібліографічний опис
Вимірювання НВЧ параметрів діелектричних матеріалів методом тонкого діелектричного резонатора / В. І. Молчанов, В. М. Пашков, Д. Д. Татарчук, А. С. Франчук // Електроніка та зв'язок : науково-технічний журнал. – 2015. – Т. 20, № 1(84). – С. 23–26. – Бібліогр.: 7 назв.