Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://ela.kpi.ua/handle/123456789/25543
Title: Пристрій вимірювання параметрів напівпровідникових приладів для формування їх математичних моделей САПР
Authors: Грицевич, Іван Ростиславович
Advisors: Піддубний, Володимир Олексійович
Keywords: транзисторний характерограф
параметри напівпровідників
модель Гумеля-Пуна
параметри моделі САПР
вольт-амперні характеристики
amper-volt characteristics.
transistor curve tracer
semiconductor parameters
Gummel-Poon model
CAD model parameters
Issue Date: 2018
Citation: Грицевич, І. Р. Пристрій вимірювання параметрів напівпровідникових приладів для формування їх математичних моделей САПР : магістерська дис. : 172 Радіотехнічні інформаційні технології / Грицевич Іван Ростиславович – Київ, 2018. – 101 с.
URI: https://ela.kpi.ua/handle/123456789/25543
Appears in Collections:Магістерські роботи
Магістерські роботи (РТПС)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Hrytsevych_magistr.pdf3.89 MBAdobe PDFThumbnail
View/Open
Show full item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.