https://ela.kpi.ua/handle/123456789/25543| Title: | Пристрій вимірювання параметрів напівпровідникових приладів для формування їх математичних моделей САПР |
| Authors: | Грицевич, Іван Ростиславович |
| Advisors: | Піддубний, Володимир Олексійович |
| Keywords: | транзисторний характерограф параметри напівпровідників модель Гумеля-Пуна параметри моделі САПР вольт-амперні характеристики amper-volt characteristics. transistor curve tracer semiconductor parameters Gummel-Poon model CAD model parameters |
| Issue Date: | 2018 |
| Citation: | Грицевич, І. Р. Пристрій вимірювання параметрів напівпровідникових приладів для формування їх математичних моделей САПР : магістерська дис. : 172 Радіотехнічні інформаційні технології / Грицевич Іван Ростиславович – Київ, 2018. – 101 с. |
| URI: | https://ela.kpi.ua/handle/123456789/25543 |
| Appears in Collections: | Магістерські роботи Магістерські роботи (РТПС) |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Hrytsevych_magistr.pdf | 3.89 MB | Adobe PDF |  View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.