Системи аналізу зображення в методах візуального контролю якості ІС
Вантажиться...
Дата
2020
Автори
Бердник, Кирило Юрійович
Науковий керівник
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
КПІ ім. Ігоря Сікорського
Анотація
Метою роботи є аналіз галузі інспекції інтегральних схем, порівняння алгоритмів аналізу зображень, розгляд методів захоплення зображення, доцільних для поставленої задачі.
У цій роботі будуть розглянуті методи виявлення дефектів, що застосовуються у візуальному контролі якості інтегральних схем, опис виникнення дефектів, можливі наслідки для роботи схеми, методи захоплення та отримання зображення світлової мікроскопії, їх порівняння, а також опис застосування конкретної техніки та програмного забезпечення для виявлення похибки металізації.
Опис
Ключові слова
контроль якості інтегральних схем, алгоритми аналізу зображення, дефекти інтегральних схем, методи обробки зображення, quality control of integrated circuits, image analysis algorithms, image acquisition methods, image processing methods, light microscopy
Бібліографічний опис
Бердник, К. Ю. Системи аналізу зображення в методах візуального контролю якості ІС : дипломна робота … бакалавра : 153 Мікро- та наносистемна техніка / Бердник Кирило Юрійович. – Київ, 2020. – 57 с.