Підготовка зразків для металографічного контролю якості

Вантажиться...
Ескіз

Дата

2021

Назва журналу

Номер ISSN

Назва тому

Видавець

КПІ ім. Ігоря Сікорського

Анотація

Об’єктом дослідження є багатошаровий конденсатор. Предметом дослідження є визначення основних характеристик, необхідних для металографічного аналізу структури багатошарового конденсатору та визначення методу пробопідготовки. Мета роботи – розробка методики пробопідготовки для отримання оптичного зображення багатошарового конденсатору. В першому розділі описується поняття мікроскопії, її методи та принцип дії металографічного мікроскопа. В другому розділі описані основні методи світлової мікроскопії, деякі методи порівнянні між собою, виведені позитивні та негативні сторони кожного з методів. Третій розділ присвячений підготовці зразків для подальшого металографічного аналізу. Було розглянуто кожен з етапів пробопідготовки та розібрані проблеми, що можуть виникати на кожного з цих етапів. В четвертому розділі описано процес отримання оптичного зображення керамічного багатошарового конденсатора. Розібрана методика підготовки такого зразка для металографічного контролю якості. В п’ятому розділі описується розробка стартап проекту та оцінюється його рентабельність та конкурентоспроможність.

Опис

Ключові слова

металографічний аналіз, пробопідготовка, багатошаровий керамічний конденсатор

Бібліографічний опис

Абраімов, О. В. Підготовка зразків для металографічного контролю якості : магістерська дис. : 153 Мікро- та наносистемна техніка / Абраімов Олексій Валерійович. – Київ, 2021. – 73 с.

DOI