Стенд для вимірювання ємності напівпровідникових приладів
Вантажиться...
Дата
2025
Автори
Науковий керівник
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
КПІ ім. Ігоря Сікорського
Анотація
Об`єкт дослідження: прилади твердотільної електроніки.
Предмет дослідження: ємність напівпровідникових приладів.
Мета роботи: Розробити стенд для вимірювання ємності напівпровідникових приладів.
В роботі було розглянуто існуючу проблему паразитної ємності в приладах напівпровідникової електроніки , означено причини виникнення такої проблеми та її можливий вплив на безпосереднє функціонування цих приладів , здійснено аналіз різних методів вимірювання ємності , а також обгрунтовано застосування нового методу вимірювання ємності який буде найбільш оптимальним саме для цієї задачі та встановлено його переваги над іншими існуючими методами. Встановлено що з його допомогою можна визначати величину ємності широкого ряду приладів твердотільної електроніки без обмежень по напрузі і частоті.
Опис
Ключові слова
ємність напівпровідникових приладів, вимірювання ємності, semiconductors, capacitance of semiconductor devices, capacitance measurement
Бібліографічний опис
Пришлюк, А. А. Стенд для вимірювання ємності напівпровідникових приладів : дипломна робота … бакалавра : 153 Мікро- та наносистемна техніка / Пришлюк Андрій Андрійович. – Київ, 2025. – 55 с.